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NO\u3csub\u3e2\u3c/sub\u3e Gas Sorption Studies of Ge\u3csub\u3e33\u3c/sub\u3eSe\u3csub\u3e67\u3c/sub\u3e Films Using Quartz Crystal Microbalance

机译:使用石英晶体微量天平对Ge \ u3csub \ u3e33 \ u3c / sub \ u3eSe \ u3csub \ u3esub \ u3c67

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摘要

A study on the NO2 gas sorption ability of amorphous Ge33Se67 coated quartz crystal microbalance (QCM) is presented. The thin films have been characterized before and after sorption/desorption processes of NO2 by energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS), grazing angle X-ray diffraction (GAXRD), Raman spectroscopy, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and atom force microscopy (AFM) measurements. These studies indicated that physisorption occurs when NO2 gas molecules are introduced into the chalcogenide film and the thin film composition or structure do not change. The mass loading due to NO2 gas sorption was calculated by the resonator’s frequency shift. At the conditions of our experiment, up to 6.8 ng of the gas was sorbed into 200 nm thick Ge33Se67 film at 5000 ppm NO2 concentration. It has been established that the process of gas molecules sorption is reversible.
机译:提出了对非晶态Ge33Se67包覆石英晶体微天平(QCM)的NO2气体吸附能力的研究。通过能量色散X射线光谱(EDS),掠射角X射线衍射(GAXRD),拉曼光谱,X射线光电子能谱(XPS)和原子表征了NO2吸附/解吸过程之前和之后的薄膜力显微镜(AFM)测量。这些研究表明,当将硫2气体分子引入硫族化物膜中并且薄膜组成或结构没有变化时,就会发生物理吸附。通过谐振器的频移计算出由于NO2气体吸附而引起的质量负荷。在我们的实验条件下,在5000 ppm NO2浓度下,最多6.8 ng的气体被吸附到200 nm厚的Ge33Se67膜中。已经确定,气体分子的吸附过程是可逆的。

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